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熱門(mén)關(guān)鍵詞： AccuPyc II 1345AccuPyc II 1345真密度儀，Accupyc II真密度儀 PPS 4.0PPS 4.0有創(chuàng)，IBP測(cè)試儀 6005, 6015, 6030, 6060, 6100, 6170Hans Rudolph非擴(kuò)散氣體收集袋,Hans Rudolph非擴(kuò)散氣囊 Partector 2naneos Partector 2納米粒子探測(cè)器 MT-3000MT-3024測(cè)長(zhǎng)機(jī)，Gagemaker MT-3000測(cè)長(zhǎng)機(jī) MA710MA710數(shù)據(jù)記錄儀,ALMEMO710數(shù)據(jù)記錄儀 zyk6200zyk6200球形水聽(tīng)器,zyk6200深海球形水聽(tīng)器 BPG-1PBPG-1P脈沖發(fā)生器，BPG-1P便攜式脈沖發(fā)生器 IMP-2A-MCIMP-2A-MC電極阻抗測(cè)試儀,IMP-2A阻抗測(cè)試儀 BSI-2ABSI-2A雙相激勵(lì)隔離器，BSI-2A雙相電刺激器 BSI-1ABSI-1A雙相激勵(lì)隔離器,BSI-1A電刺激器 2400LE&I 2400L線性功率放大器,E&I 2400L功率放大器 2340Tegam 2340高壓放大器,Tegam 2340電壓放大器 GasD 8160-2000bInterscan GasD 8160-2000b甲醛測(cè)試儀,Interscan 8160-2000b甲醛測(cè)試儀 AG1020美國(guó) T&C AG1020高頻放大器,AG1020放大器 SM 30ZHinstruments SM 30磁化率儀，SM30巖石磁化率儀

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

無(wú)損檢測(cè)

槽楔彈性模量?jī)x 壁厚測(cè)量?jī)x 超聲波壁厚測(cè)量?jī)x 附著力測(cè)試儀槽楔塊對(duì)比敏感度計(jì) 校正板空化計(jì) 相控陣探傷儀超聲波空化儀針孔相機(jī) 測(cè)式儀 X射線管壓力指示膜激光膠片數(shù)字化儀 CR系統(tǒng) 原位雜交儀電暈相機(jī) 磁通門(mén)計(jì) 安檢套件安檢儀測(cè)試箱掃描儀換能器狹縫相機(jī) 磁導(dǎo)率儀輻射力天平

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您的位置：首頁(yè) - 產(chǎn)品中心 - - 無(wú)損檢測(cè) - RT RC-04JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡

JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡

產(chǎn)品型號(hào)：RT RC-04
更新時(shí)間：2025-05-14

簡(jiǎn)要描述：JIMARTRC-04分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦X射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式

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產(chǎn)品詳情

JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對(duì)應(yīng)于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。不同距離的線束應(yīng)用于硅載體

JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡特點(diǎn)：

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm

圖案布局：T型

線/空間尺寸：32種規(guī)格圖案,

0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,

0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,

每個(gè)測(cè)試圖案由 8 條線組成，T 形布局
吸收材料：鎢，厚度>=650nm
保護(hù)膜：PET膜25μm（含粘合劑）
硅基：15 µm +/- 1 µm（厚度）
外殼尺寸：40 x 30 x 5 毫米（寬 x 高 x 深）
芯片尺寸：5 x 5 x 0.06mm（寬 x 高 x 深）
精度模式：公差： +/- 10%
適用范圍工作溫度：10°C至70°C

JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡用途：
在 X 射線系統(tǒng)的分辨率測(cè)試。選擇檢測(cè)器、樣品和試管之間的距離，以便獲得盡可能高的放大倍數(shù)。現(xiàn)在選擇所需的 X 射線參數(shù)。將測(cè)試圖案放置在試管前面，以便一束線條中的每條線條清晰可見(jiàn)。使用機(jī)械手進(jìn)行溶出度測(cè)試，使下一個(gè)最小的線束變得可見(jiàn)。只要線條清晰，就繼續(xù)。以下近似適用：焦點(diǎn)尺寸等于分辨率乘以 2。

JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試的布局+封裝

JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡

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